日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211

產(chǎn)品型號： DS-110/D-20

所屬分類：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-06

簡要描述：日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20
測量了在非磁性金屬（鋁，銅，黃銅）上的非導(dǎo)電膜，在鋼上的各種鍍層，在非金屬上的銅，鍍銀等，它們在基底和膜之間的導(dǎo)電性差異很大。它可以實現(xiàn)高度穩(wěn)定和高精度的膜厚測量。

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詳細說明：

日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20

渦流式膜厚計

測量了在非磁性金屬（鋁，銅，黃銅）上的非導(dǎo)電膜，在鋼上的各種鍍層，在非金屬上的銅，鍍銀等，它們在基底和膜之間的導(dǎo)電性差異很大。它可以實現(xiàn)高度穩(wěn)定和高精度的膜厚測量。

渦流膜厚儀的特點

?可以在短時間內(nèi)進行檢查
?由于無損，因此非常適合100％檢查
?采用晶體振動法，精度高

?可以測量10 nm以上的非金屬沉積

日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211/DS-110/D-20

渦流膜厚儀產(chǎn)品列表

渦流膜厚儀DMC-211

高速和可操作性
短時間，無損測量適合100％檢查

?在1秒內(nèi)進行無損測量，非常適合100％檢查
?使用個人計算機進行校準
?測量等簡便操作?只需將探頭放到測量對象上即可自動捕獲測量值
?特性曲線（校準曲線）
每個通道注冊了70個標準存儲器，公司名稱，零件號，批號

通過安裝自動捕獲模式，可以輕松測量膜厚。PC顯示器。

渦流膜厚儀DMC-211的特點

數(shù)字顯示測量值，讀數(shù)

在短時間內(nèi)（1秒以內(nèi)），大多數(shù)金屬上的膜（鋁上的氧化膜，鋅/鉻鍍層/鐵上的油漆），大多數(shù)非金屬上的金屬膜（塑料上的鍍層等）無損測量使其成為100％檢查的理想選擇。

使用個人電腦易于操作

通過使用個人計算機，諸如校準和測量的操作容易。可以選擇各種測量模式，從而更容易測量小零件，例如螺釘頭，線材和壓鑄產(chǎn)品。

配備[自動拍攝]模式

在[自動采集]模式下，您只需將探頭放在要測量的對象上并釋放它，就可以自動加載測量值。

特征曲線（校準曲線）的大量存儲

作為標準配置，用于自動選擇的70條特性曲線（校準曲線）存儲在存儲器中。如果您有用于特殊材料的標準板，則可以創(chuàng)建并輸入新的特性曲線（校準曲線）。

渠道注冊功能獲取公司信息

可以為每個通道注冊對方的公司名稱，零件號和批號。
總頻道：40個頻道

配備統(tǒng)計處理功能

可以保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，然后可以設(shè)置統(tǒng)計項目并進行統(tǒng)計處理。

測量單位

測量單位為毫米，微米，密耳，密耳。
單位可以隨時更改，測量值將自動轉(zhuǎn)換。

測量原理

當使高頻電流通過的探針（測量元件線圈）接近金屬時，在金屬表層產(chǎn)生渦電流。該渦電流受高頻磁場的強度，頻率，金屬的電導(dǎo)率，厚度，形狀等的影響，并且穿透深度和其尺寸不同。
渦流流動從而抵消了探頭的高頻磁場，因此探頭的高頻電阻值發(fā)生了變化。高頻電阻變化的幅度通常與薄膜厚度不成比例，因此請將其與內(nèi)部或用戶創(chuàng)建的特性曲線（校準曲線）進行比較，然后將其轉(zhuǎn)換為薄膜厚度值。顯示它。

渦流膜厚儀DMC-211的規(guī)格

型號（主體）	Dermes DMC-211型
原理	渦流法
測量方式	厚度測量
通道數(shù)	40個頻道
資料容量	100,000個數(shù)據(jù)
顯示	通過電腦監(jiān)控畫面
統(tǒng)計處理	大值，小值，平均值，標準差，直方圖，上限和下限設(shè)置
電源供應(yīng)	AC100-240V，50 / 60Hz 10VA（主體）
重量	3.0公斤
尺寸	280（寬）x 230（深）x 88（高）毫米

（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知。

渦流膜厚儀DMC-211探頭規(guī)格

1. 　探頭有效范圍使用超細探頭時	φ5毫米 φ3毫米
2.探針線的長度	900毫米
3.根據(jù)導(dǎo)軌的類型可以在曲面上進行測量
4.探頭類型	MP型...用于平凹曲面（標準） SM型...用于平凹曲面（超細） RP型...凹曲面，管道內(nèi)表面 SR型…小直徑管道內(nèi)表面對于上述探頭，A，B有四種類型，C和D。
5.探針指南	＃180：用于平面測量＃120：用于直徑25-60mm的凸曲面測量